"""Test program basics (zh-Hans)."""

title = "测试程式基础"

content = """
测试程式（test program）是运行在测试机（ATE）上的软件，定义测试项顺序、条件、
激励与判据，并控制与探针台的协同。程式的正确性与版本管控直接关系到测试结果
可信度。

**程式结构：** 通常包含初始化、接触检查、直流参数测试、数字/扫描/ BIST 等功能
测试、分档与数据输出。每步的电压、电流、时序与 limit 需与设计及规格一致。

**版本与发布：** 程式变更须经评审与验证，在量产前做首片或小批量验证，确认良率与
覆盖率符合预期。发布后程式版本号与 lot/wafer 绑定记录，便于追溯与客诉分析。

**多工位与并行：** 为提升产能，程式可支持多 site 并行测试（同一 wafer 上多颗 die
同时测），需注意资源冲突、时序与数据汇总正确性。
"""

version = "0.0.1"
