"""Data logging (zh-Hans)."""

title = "数据记录"

content = """
晶圆测试产生的数据需完整、可追溯地记录并存储，供良率分析、客诉、
审计与制程改进使用。

**内容要求：** 每颗 die 的测试结果（pass/fail、bin、关键参数值）、
 wafer 与 lot 标识、测试程式版本、探针卡与机台 ID、时间戳等。
 可选记录完整波形、fail  cycle 或详细参数以备分析。

**格式与系统：** 常用 STDF（Standard Test Data Format）或厂内
 格式；数据上传至 MES、数据仓库或客户指定系统。格式与字段
 需与下游及客户约定一致。

**保留与安全：** 按质量与法规要求设定数据保留期限与访问权限；
 关键客户数据需加密与访问控制，防止篡改与泄露。
"""

version = "0.0.1"
