"""At-speed test (zh-Hans)."""

title = "高速测试"

content = """
At-speed 测试在目标工作频率或接近目标频率下执行功能或路径测试，用于筛除因
时序不满足而无法在规格频率下正常工作的 die。

**目的：** 直流与低速测试无法完全暴露时序边际问题。At-speed 测试通过施加
高速时钟与向量，检查建立/保持时间、关键路径延迟等，确保 die 在标称频率下
功能正确。

**实现方式：** 可由测试机产生高速时钟与 pattern，或利用 die 内部 PLL 与
 at-speed 逻辑；有时结合 BIST 在片内产生高速测试。需注意测试机与探针卡
 的带宽与信号完整性限制。

**与成品测试的衔接：** CP 阶段的 at-speed 覆盖与 FT 的 at-speed 测试需
协调，避免重复或遗漏，并用于 CP-FT 相关性分析。
"""

version = "0.0.1"
