"""Lot tracking (zh-Hans)."""

title = "批次追踪"

content = """
晶圆测试环节的批次（lot）追踪确保每片 wafer、每颗 die 的测试条件与结果
可追溯至具体 lot、机台、程式版本与时间，满足质量与客诉分析需求。

**标识与绑定：** 每批 lot 有唯一 lot ID；每片 wafer 有 wafer ID（或 slot）。
测试时 lot/wafer 与使用的测试程式版本、探针卡 ID、测试机与探针台 ID、
操作员及时间戳绑定并写入 MES 或数据系统。

**数据完整性：** 测试数据文件（如 STDF）中应包含上述追溯信息。任何
程式、探针卡或机台更换都应在数据中可识别，以便良率异常时快速
定位变量。

**与上下游一致：** 追踪 ID 与命名规则需与前道制造、封装及客户
要求一致，避免在交接时出现断链或歧义。
"""

version = "0.0.1"
