"""Statistical process control (zh-Hans)."""

title = "统计过程控制"

content = """
统计过程控制（SPC）通过对关键测试参数与良率指标做持续监控与
判异，及时发现制程或设备漂移，避免批量不良。

**监控对象：** 如关键直流参数均值/标准差、良率、contact 电阻、
 各 bin 比例等。按 lot、wafer 或设备聚合，并绘制控制图
（如 X-bar、R 图或 p 图）。

**判异准则：** 超出控制限、连续点同侧、趋势上升或下降等
 按厂内 SPC 规则判定。一旦判异，触发暂停、排查与
 纠正措施，并记录原因与处置。

**与制程联动：** 测试端 SPC 异常可能对应前道或测试设备
 问题，需与制程整合、设备工程师协同分析。数据与
 规则需定期回顾与更新，以匹配产品与产能变化。
"""

version = "0.0.1"
