"""Probe card technology (zh-Hans)."""

title = "探针卡技术"

content = """
探针卡是连接测试机与晶圆上焊盘的接口，其上的探针在测试时与 die 的 pad 接触，传递
电信号。探针卡的设计与状态直接影响接触可靠性、信号完整性与测试成本。

**结构类型：** 常见有悬臂式（cantilever）、垂直式（vertical）、微机电（MEMS）探针卡等。
高引脚数、细间距（fine pitch）产品多采用垂直或 MEMS 以兼顾密度与寿命。

**针痕与共面性：** 探针在 pad 上形成的针痕（scrub mark）需在允许范围内，过深会损伤
金属或钝化层。多根探针的共面性（coplanarity）必须良好，否则部分针接触不良导致
误测或漏测。

**寿命与更换：** 探针在重复接触中会磨损、污染或变形，需按使用次数与监控数据（如
接触电阻趋势）安排清洁、重磨或更换，并记录探针卡 ID 与使用历史以便追溯。
"""

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